Zakup systemu referencyjnego do pomiaru odchyłek kształtu

Przedmiotem zamówienia jest zakup systemu referencyjnego do pomiaru odchyłek kształtu. Minimalne wymagania metrologiczne i konstrukcyjne: 1. Dokładność pomiaru okrągłości: ≤ 0,02 μm + 0,0004 μm/mm wysokości pomiaru (wg ISO 1101, filtr Gauss 15 W/U). 2. Rozdzielczość kątowa osi obrotowej: ≤ 0,0001°. 3. Zakres prędkości obrotowej stołu: od 0,5 do min. 200 obr./min, definiowana przez użytkownika 4. Najmniejsza odległość próbkowanych punktów pomiarowych osi poziomej i ponowej <= 1nm 5. Dokładność pozycjonowania osi pionowej, poziomej i obrotowej, określona zgodnie z ISO 230-2 (lub równoważną procedurą badawczą) ≤ 2 μm. 6. Obsługa dwóch technologii pomiarowych: czujnik stykowy i czujnik optyczny (np. chromatyczny sensor światła białego) umożliwiający pomiar geometrii prostych i asferycznych. 7. Stół referencyjny z łożyskowaniem mechanicznym o błędzie osiowym ≤ 0,04 μm (40 nm) w pełnym zakresie obciążenia roboczego, zapewniający stabilność położenia również w przypadku braku zasilania. 8. Integracja w jednym środowisku pomiarowym – pomiary stykowe i optyczne muszą być realizowane i analizowane w ramach jednego, oprogramowania metrologicznego, posiadającego moduły do analizy odchyłek kształtu oraz topografii powierzchni. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi Załącznik nr 1 do Zaproszenia. Projektowane postanowienia, które zostaną wprowadzone do treści zawieranej umowy w sprawie zamówienia publicznego zawiera Projekt umowy - Załącznik nr 3 do Zaproszenia.