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Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
- Published
- Published 9 January 2026
- Deadline
- Closed 10 February 2026
Overview
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses soll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Spektralbereich mit einer lateralen Ortsauflösung von 30 nm durch intensitäts- und phasenaufgelöste Vermessung des an einer Spitze gestreuten optischen Nachfeldes ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.
Key details
- Country
- Germany
- Status
- Awarded
- Category
- Goods
- Procedure
- Open
- SME suitable
- No
- Published
- 9 January 2026
- Deadline
- Closed
Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)
Award outcome
- Awarded value
- €219,340
- Award date
- 9 March 2026
- attocube systems AG
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Notice history
Every published notice in this contracting process, newest first.
Contract Award Notice
11 March 2026
Contract Notice
9 January 2026
Contracting authority
Friedrich-Schiller-Universität Jena
Procuring entityJena, Germany
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